CdS filmleri Ultrasonik Kimyasal Püskürtme Yöntemi ile 300±5oC taban
sıcaklığındaki cam tabanlar üzerine çöktürülmüstür. Isıl tavlama; 200±2oC ‘den 450±2oC ‘ye
kadar altı farklı sıcaklıkta 3 saat süre ile hava ortamda ayrı ayrı yapılmıstır. Filmlerin
kalınlıkları 1,0-4,9 μm arasında ölçülmüs, % u
x üniformlulukları ise %62,50-%90,91 arasında
hesaplanmıstır. Tanecik büyüklükleri 116,22-163,26 Å arasında hesaplanan numunelerin
XRD desenleri 20o-60o aralığında 25oC ortam sıcaklığında alınmıstır. δD düzlemsel
dislokasyonları, < e > düzlemsel deformasyonları ile TC yapılanma katsayıları hesaplanmıs ve
bu sonuçlara göre tercihli yönelimlerinin; hem yarı pik genisliği en dar hem de yapılanma
katsayısı en yüksek olan A2, A3, A4 ve A6 numuneleri için (100) ve A0, A1 ve A5
numuneleri için (002) düzlemlerinde gerçeklestiği gözlenmistir. Numunelerin temel
absorbans spektrumları yardımıyla; geçirgenlikleri %67.60-%76.15, kırılma indisleri 1.75-
1.96, yasak enerji aralıkları 2.41-2.43 eV, Urbach parametreleri ise 85-244 meV arasında
hesaplanmıstır. Sıcak uç yöntemi ile numunelerin iletkenlik tipleri n-tipi olarak bulunmustur.
ρ özdirençleri, karanlık ve aydınlık sartlar altında sırasıyla 1,84.10+5-1,74.10+6 ( cm) ve
6,92.10+3-6,65.10+5 ( cm) olarak hesaplanan filmlerin fotoiletkenlikleri
4,69.10-6-1,07.10-4 ( cm)-1, fotohassasiyetleri ise 8,18-157,94 arasında hesaplanmıs olan
numunelerin I∼V karakteristiklerine göre tam bir ohmikliğe sahip olmadıkları ve aydınlık
sartlar (25 mW/cm2) altında ısığa karsı duyarlı oldukları belirlenmistir. Pürüzlülük katsayıları
10,34-45,00 arasında değisen numunelerin optik mikroskop görüntüleri ile renk değisimleri,
AFM görüntüleri ile yüzeysel durumları, SEM ile yüzey morfolojileri, EDS ile elemental
analizleri incelenmistir. Numunelerin homojen yüzeylere sahip olmadığı gözlenmis ve ısıl
tavlamanın etkileri incelenmistir.
CdS films were deposited at 300±5oC substrate temperature on glass substrates by
ultrasonic spray pyrolysis technique. Thermal annealing were realized in air surroundings
during 3 hours one by one for all samples for six different temperatures to 450±2oC from
200±2oC ranging. The films’ thicknesses were measured between 1,0-4,9 μm and % u
x
uniformities were calculated between %62,50-%90,91. The grain sizes were measured
between 116,22-163,26 Å and XRD patterns were captured for 2θ = 20o-60o in ambient
temperature 25oC for each sample. The planar dislocations (δD), planar deformations ( < e > )
and texture coefficents (TC) were measured for each of them and according to these results
their preferred orientations were observed for both the narrowest the full width at half
maximum (FWHM) and most large texture coefficient in (100) planar for A2, A3, A4, A6, in
(002) planar for A0, A1, A5 sample films. With the help of absorption, spectrums of sample
films calculated respectively, transmissions between %67.60-%76.15, refractive indices
between 1.75-1.96, band-gap energies 2.41-2.43 eV and Urbach parameters between
85-244 meV. The conductivity types of samples were deduced as n-type. The resistivities (ρ)
were calculated to be in the range 1,84.10+5-1,74.10+6 ( cm), 6,92.10+3-6,65.10+5 ( cm) in
dark and light conditions, meanwhile photoconductivity and photosensivity were calculated in
the same way and respectively, between 4,69.10-6-1,07.10-4 ( cm)-1, 8,18-157,94 each of
them for samples that their not complete ohmic were showed according to I∼V characteristics,
hardly their were deduced sensitive to light (25 mW/cm2) in light conditions. The root mean
squares values changed between 10,34-45,00 sample of films were investigated the changing
of colour, surface situations, surface morphologies and elemental analysis by Optic
Microscope, AFM, SEM and EDS, respectively.
