Ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği ile elde edilen Cd1-xBxS filmlerinin bazı fiziksel ve yüzeysel özelliklerinin incelenmesi

Abstract

Bu çalışmada ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği ile 275±5oC taban sıcaklığında farklı Bor hacimsel oranlarında (%10-20-30-40-50) CdS filmleri elde edilmiştir. Üretilen filmlerin yapısal, optiksel, yüzeysel ve elektriksel özellikleri incelenerek B elementinin etkisi araştırılmıştır. Cd1-xBxS filmlerinin spektroskopik elipsometre ile kalınlıkları ve bazı optik parametreleri belirlenmistir. X-ısını kırınım desenlerinden, tüm filmlerin polikristal yapıda olustuğu belirlenmiştir. Cd1-xBxS filmlerinin optik özellikleri incelenmis ve yaklasık olarak 2,32 -2,44eV arasında yasak enerji aralıklarına sahip oldukları saptanmıştır. Atomik Kuvvet Mikroskobu ile filmlerin üç boyutlu yüzey topografileri ve yüzey pürüzlülükleri incelenmiştir. Taramalı Elektron Mikroskobu ile filmlerin yüzey özellikleri incelenmiş ve Enerji Dağılımlı X-ısınları Spektrometresi ile elemantal analizleri yapılmıştır. Filmlerin özdirenç değerleri dört uç metodu ve elektriksel iletkenlik tipleri sıcak uç tekniği kullanılarak belirlenmiştir.

In this study, Cd1-xBxS films have been deposited at a substrate temperature of 275±5°C with different volume ratios of B (%10-20-30-40-50) by ultrasonic spray pyrolysis technique. The effect of B incorporation has been searched by investigating the structural, optical, surface and electrical properties of the produced films. Thickness values and some optical parameters have been determined by spectroscopic ellipsometer. It has been determined from X-ray diffraction patterns that all films are polycrystalline. Optical properties have been investigated, and it has been determined that Cd1-xBxS films have band gap values between 2,32eV and 2,44eV. Three dimensional surface topography and surface roughness of the films have been investigated by Atomic Force Microscope. Surface properties of the films have been investigated by Scanning Electron Microscope and elemental analyses have been made by Energy Dispersive X-ray Spectrometer. Four-probe method has been used to determine resistivity values of the films. Electrical conductivity types of the films have been determined by hot-probe technique.